產品(pǐn)描(miáo)述及(jí)技術優(yōu)勢：

根據(jù)微(wēi)波(bō)穿透介(jiè)質時產(chǎn)生的(dí)微(wēi)波(bō)能(néng)量衰減(jiǎn)量來(lái)計算水(shuǐ)分(fēn)的(dí)百(bǎi)分(fēn)比(bǐ)含(hán)量。水是一(yī)種(zhǒng)極性(xìng)分子(zǐ)，當特定(dìng)2.4GHZ頻(pín)率的微波穿(chuān)透(tòu)物料時(shí)，物料(liào)裏麵水分子(zǐ)O-H鍵(jiàn)會(huì)吸收(shōu)特定(dìng)頻率的(dí)微波能量(liáng)。微波(bō)發(fā)射(shè)探頭從皮帶下(xià)方(fāng)發射(shè)微波能(néng)量(liáng)，穿透整個皮帶(dài)後被皮(pí)帶上方(fāng)的微波接(jiē)收(shōu)探(tàn)頭(tóu)接收(shōu)剩(shèng)餘的微(wēi)波(bō)能量(liáng)，同(tóng)時(shí)加(jiā)配一個(gè)超聲波高(gāo)度(dù)補償(cháng)探頭，測(cè)量(liáng)皮帶上(shàng)物(wù)料的厚度。

 微波從位(wèi)於(yú)輸(shū)送(sòng)帶下方的微波發射探頭(tóu)發射能(néng)量(liáng)，透過(guò)皮帶及(jí)物(wù)料後被(bèi)皮(pí)帶上端(duān)微波接收(shōu)探頭接收剩餘(yú)的微(wēi)波(bō)能量。根據(jù)微波能量值(zhí)的(dí)衰減，利(lì)用(yòng)超聲波(bō)高度補償(cháng)探頭計算瞬時高度(dù)，根據(jù)計算損失(shī)的微波總能量和瞬(shùn)時(shí)高度(dù)值(zhí)的比值(zhí)（用超(chāo)聲(shēng)波高度(dù)補(bǔ)償(cháng)探頭計(jì)算物料高度的變化模(mó)擬物(wù)料質量變化(huà)），利(lì)用(yòng)微電腦(nǎo)係統(tǒng)軟(ruǎn)件即可(kě)計(jì)算出物料(liào)的(dí)含水率。

由(yóu)於微(wēi)波原理(lǐ)是(shì)可以穿(chuān)透(tòu)過(guò)程物料，所以皮(pí)帶(dài)上(shàng)整個物料(liào)厚(hòu)度(dù)的平(píng)均(jūn)水(shuǐ)分(fēn)都能(néng)被(bèi)測定(dìng)。

微波水(shuǐ)分(fēn)儀不(bù)僅僅測試物料表麵的(dí)水份，同時也測試物料(liào)內部(bù)的水(shuǐ)份
！

該(gāi)技術(shù)保證了(liǎo)很(hěn)高的測(cè)量準確性(xìng)和(hé)精(jīng)度，物(wù)料(liào)的顏(yán)色(sè)和(hé)表麵結構(gòu)，水(shuǐ)蒸氣(qì)和粉塵都不會影響測(cè)量(liáng)結果(guǒ)。

技術優(yōu)勢：

1.測(cè)量的是總水（被測物(wù)料(liào)的表麵(miàn)和(hé)內(nèi)部(bù)水(shuǐ)分(fēn)之(zhī)和(hé)）測(cè)試結果更具代(dài)表(biǎo)性。

2.非(fēi)接觸測(cè)量：不(bù)會(huì)磨(mó)損探頭，不會(huì)粘著(zhuó)物料，不會影響(xiǎng)生(shēng)產過(guò)程(chéng)。

3.提(tí)供(gōng)瞬時測(cè)量(liáng)值（實(shí)時(shí)測試(shì)）來用於過程控(kòng)製(zhì)。

4.測量精(jīng)度高，均匀物(wù)料(liào)精(jīng)度0.1-0.3%。

5.免維護(hù)，運(yùn)行(háng)成本低。

6.發射(shè)能量低，不會改變(biàn)物料(liào)的(dí)性(xìng)質，安全(quán)可(kě)靠。

7.不(bù)受(shòu)環(huán)境(jìng)粉塵，水蒸氣因(yīn)素(sù)影響(xiǎng)。抗(kàng)幹(gān)擾(rǎo)能力強。

8.不(bù)受(shòu)物(wù)料顏色變(biàn)化及陽光照(zhào)射(shè)的影響。

9.測量(liáng)方式：微(wēi)波(bō)穿透(tòu)式(shì)。

10.標準配置：微(wēi)波發射(shè)探(tàn)頭,微(wēi)波接(jiē)收探頭(tóu),超聲波高度補(bǔ)償探頭(tóu),微電(diàn)腦(nǎo)中(zhōng)央處理(lǐ)係(xì)統(tǒng)。